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IST8800美国分立半导体器件综合测试仪,测试仪器网专业销售,提供IST8800美国分立半导体器件综合测试仪产品简介,技术参数.

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产地:美国 厂商:美国IST 市场报价

 

IST8800分立半导体器件综合测试仪

 

    本仪器是美国IST公司最新研制的产品,采用Z80芯片,微机控制,液晶显示其测试条件及测量结果,可用于对晶体三极管,二极管,齐纳二极管,J型场效应管,可控硅管。,三端双向可控硅管和三端稳压器进行直流参数的测试,并可自动进行合格/不合格判断,对器件进行分选.本仪器并配有RS 232C串联接口和IEE 488接口,可配接电脑数据记录仪及打印机,打印出测试条件及结果。并可以对各类器件的予置测试条件进行存储。关机后,仍可保存在机内,以备下一次的使用。

 

性能指标:

 

三极管   Icbo  Iceo   Ices   Iebo   Icev
 电流 电压 分辨率  误差
0 200.0 nA 0 600V 0.1nA ±2%
0 200μA 0 600V 1 nA ±1.5%
0 200.0μA 0 600v 1.1μA ±1%
0 20.00mA 0 500V 10μA ±1%
三级管 BVcbo BVebo BVcer BVces BVcev
电压 电流 分辨率 误差
0 600V 0 30mA 3V ±1%
0 30V 0 200mA 0.1V ±1%
三极管 Vve(sat)Vbe(sat)
电压 电流 分辨率 误差
0 5V 0 5A  2mV ±2%
0 2V 0 1A 1mV ±2%
三极管 hFE
量程 分辨率 误差
hFE 0 5000 1 ±2%
Vce 0 20V
Ic 0 5A
Ib 0 1A
二极管Ir
电流 电压 分辨率 误差
0 200.0nA 0 600V 0.1nA ±2%
0 200.0μA 0 600V 1 nA ±1.5%
0 2.00μA 0 600V 0.1μA ±1%
0 20.00mA 0 500V 10μA ±1%
 二极管BVr
C 电流 分辨率 误差
0 30V 0 200mA  0.1V ±2%
0 600V 0 20mA 3V ±2%
二极管Vf
电压 电流 分辨率 误差
0 5V 0 5A 2mV ±2%
稳压二极管BVz
电压 电流 分辨率 误差
0 300V 0 30mA 1V ±1%
0 60V 0 200mA 0.3V ±1.5%
0 40V 0 1mA 0.1V ±1%
稳压二极管Izr
电流 电压 分辨率 误差
0 500mA 0 30V 2mA ±1%
0 100mA 0 60V 0.4mA ±1%
0 20mA 0 250V 80nA ±2.5%
 稳压二极管Vzr
电流 电压 分辨率 误差
0 300V 0 30mA 1V ±1%
0 60V 0 200mA 0.3V ±1.5%
0 40V  0 1A 0.1V ±1%
稳压二极管Vzf
电压 电流 分辨率 误差
0 5V 0 5A 2mv  ±1%
 J/M型场效应晶体管Idss
电流 电压 分辨率 误差
0 0.2A 0 30V 10μA ±2%
0 30mA  0 300V  1μA ±2%
J型场效应晶体管Igss
电流 电压 分辨率 误差
0 20.00mA 0 30V 10μA ±2%
0 200.0μA 0 30V 0.1μA ±1.5%
0 2.00μA 0 30V 1nA ±1.5%
0 200.0nA 0 30V 0.1nA ±1.5%
J型场效应晶体管BVgss
电压 电流 分辨率  误差
0 300V 0 30mA 1v ±2%
0 30V 0 200mA  0.2v ±1.5%
可控硅整流器件及双向可控硅开关器件Vgt Igt
电流 电压 分辨率 误差
0 100.00mA 0 40V 50μA ±1.5%
0 10.00mA 0 40V 5μA ±1.5%
0 1.00mA 0 40V 0.5μA ±2%
三端稳压电源集成块
量程范围 分辨率 误差
Vo 0 ±28V 0.1V ±2%
Iib 0 ±20mA 1μA ±2%
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